Test de criblage en conditions controlées pour la résistance du pois à Aphanomyces euteiches - INRA - Institut national de la recherche agronomique
Article Dans Une Revue Cahier des Techniques de l'INRA Année : 2005

Test de criblage en conditions controlées pour la résistance du pois à Aphanomyces euteiches

Résumé

La pourriture racinaire précoce du pois est due à un oomycète d’origine tellurique, Aphanomyces euteiches. Cette maladie, apparue en France au début des années 1990, est responsable de pertes de rendement très importantes, pouvant atteindre 100% en cas de forte attaque. Afin d’étudier la résistance du pois à A. euteiches et de faire progresser la sélection variétale, il est apparu nécessaire de disposer d’un test en conditions contrôlées, utilisable en routine.
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  • HAL Id : hal-02678508 , version 1
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Citer

Anne Moussart, Bernard Tivoli. Test de criblage en conditions controlées pour la résistance du pois à Aphanomyces euteiches. Cahier des Techniques de l'INRA, 2005, N° Spécial : Bioagresseurs, pp.115-117. ⟨hal-02678508⟩
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